窜别迟补电位分析仪-窜别迟补电位

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9x9系列纳米粒度及窜别迟补电位分析仪以高速数字相关器为核心器件，使用动态光散射技术测量颗粒粒度，使用相位分析光散射技术测量Zeta电位，使用静态光散射技术测量分子量，测量结果准确可靠，是测量纳米颗粒粒度和Zeta电位的信赖之选。

更新日期：2023-10-20
厂商性质：生产厂家
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