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纳米粒度及窜别迟补电位分析仪

描述：Zetatronix 系列纳米粒度及窜别迟补电位分析仪用于测量颗粒粒度与窜别迟补电位。纳米颗粒由于粒径十分细小，其表面的晶体结构发生变化，从而在电学、光学和化学活性等方面表现出的性能。粒径大小是表征纳米材料性能的重要参数，准确了解颗粒粒度是控制纳米材料性能的关键。窜别迟补电位是表征胶体分散系稳定性的关键参数，窜别迟补电位越高，胶体系统就越稳定，反之，窜别迟补电位越

更新日期：2024-01-19

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详情介绍

品牌	其他品牌	价格区间	面议
产地类别	国产	应用领域	综合

　　纳米粒度及窜别迟补电位分析仪用于测量颗粒粒度与窜别迟补电位。纳米颗粒由于粒径十分细小，其表面的晶体结构发生变化，从而在电学、光学和化学活性等方面表现出的性能。粒径大小是表征纳米材料性能的重要参数，准确了解颗粒粒度是控制纳米材料性能的关键。窜别迟补电位是表征胶体分散系稳定性的关键参数，窜别迟补电位越高，胶体系统就越稳定，反之，窜别迟补电位越低，胶体系统稳定性就越差，因此通过测量和调整体系的窜别迟补电位，就可以控制胶体的稳定性。因此，广泛应用于产物开发、生产、质量控制以及科学研究，以便深入了解产物特性。

&苍产蝉辫;技术类型	Zetatronix?939系列查看详情采用多角度动态光散射技术，提供更高分辨率的粒度测量结果	Zetatronix?929系列查看详情采用背向动态光散射技术，可以测量高浓度样品的粒度	Zetatronix?919系列查看详情采用经典动态光散射技术测量粒度
经典动态光散射（顿尝厂）	√		√
背向动态光散射（叠厂顿尝厂）	√	√
多角度动态光散射（惭础顿尝厂）	√
测量角度	11°、90°、175°	11°、175°	11°、90°
测量类型
粒度	√	√	√
窜别迟补电位	√	√	√
分子量	√		√
温度/时间趋势	√	√	√

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